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商品の詳細:
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| 内部箱のサイズ: | W620×D450×H1100mm | 内部箱の容積: | 460L |
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| 冷却方法: | Air-Cooled | 重量: | 900KGについて |
| ハイライト: | 高温は老化する部屋を加速した,カスタマイズされた加速された老化する部屋 |
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カスタマイズされた高低の温度は老化する部屋を加速した
特徴
全機械試験制度は主に高低の温度箱、PCのメイン ボード、PM板、破片板、FPGA板、プロダクト工具細工、後部倉庫テストPCおよびテスト ソフトウェア、等を含んでいる。ハードウェア部品。
SSDの理性的な試験制度の概観
SSDの理性的な試験制度は、開いた原稿モードによって、Win10オペレーティング システムのプラットホームをの温度採用しPCIEプロダクトの高低の温度箱そしてテスト項目は任意に変更することができ1ボタン操作、ネットワーク制御、救う労働を遂行され、理性的なデータ管理を実現するために実現し、データ伝送はLinuxシステムおよびネットワーク スイッチを通して永久に試験結果を保つ。
情報
| プロダクト モデル | HD-64-PCIE |
| 内部箱のサイズ | W620×D450×H1100mm |
| 外箱のサイズ | 约W1640×D1465×H1875mm （統合された機械）） |
| 内部箱の容積 | 460L |
| 開始方法 | 単一のドア（開けなさい右の） |
| 冷却方法 | air-cooled |
| 重量 | 900KGについて |
| 電源 | AC 220V約6.5 KW |
温度変数
| 温度較差 | -5℃~100℃ |
| 温度の変動 |
≤±0.5℃ ≤±1℃ |
| 温度のオフセット | ≤±2℃ |
| 温度の決断 | 0.01℃ |
| 暖房率 | 5℃/min （標準的な負荷の下の機械冷却、） |
| 温度変化率 |
高温は低温非線形0℃~2℃/minに会うことができる5℃~8℃/min非線形調節可能に（、標準的な負荷の下で空気出口、機械冷凍で測定されて）会うことができる 調節可能（、正常な負荷の下で空気出口、機械冷却で測定されて） |
| 温度の均等性 | ≤±2℃ |
| 標準的な負荷 | 10KGアルミニウム ブロック、500W負荷; |
テスト標準
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GB/T5170.2-2008温度の試験装置
GB/2423.1-2008 （IEC60068-2-1:2007年の）低温テスト方法AB。
GB/2423.2-2008 （IEC60068-2-2:2007年の）高温テスト方法BA。
GJBl50.3 （MIL-STD-810D）高温テスト方法。
GJBl50.4 （MIL-STD-810D）低温テスト方法。 |
制御システム
| 表示 | 色LCDの表示 |
| 操作モード | プログラム モード、固定価値モード |
| 設定 | 中国および英国メニュー（任意）、タッチ画面の入力 |
| 範囲の配置 | 温度:装置（上限+5°Cの低限-5°C）の温度の働きの範囲に従って調節しなさい |
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表示決断 |
温度:0.01°C 時間:0.01min |
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制御方式 |
BTCはバランスをとった温度調整方法+ DCC （理性的な冷却制御）の+ DEC （理性的な電気制御） （温度の試験装置） BTHCは温度および湿気の制御方式+ DCC （理性的な冷却制御）の+ DEC （理性的な電気制御）バランスをとった（温度および湿気の試験装置） |
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カーブの記録機能 |
それに価値を見本抽出し、装置の時を見本抽出する設定値を救うことができる電池の保護のRAMがある、;最高の記録タイムは（サンプリング周期が1.5min時） 350日である |
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付属機能 |
敏速な機能を処理する警報および原因を非難しなさい パワー保護機能 上部および下の限界温度の保護機能 カレンダーのタイミング機能（自動開始および自動は操作を停止する） 自己診断機能 |
コンタクトパーソン: Kelly
