広範囲のフラッシュ・メモリの試験制度高低の温度によって加速される老化する部屋

製品仕様書

フラッシュ・メモリの破片の理性的な試験制度HD-512-NANDはテスト計画をカスタマイズし、さまざまなタイプのフラッシュ・メモリの粒子の平行テストを支えることができる広範囲のフラッシュ・メモリの試験制度である。64のタイプは、フラッシュ・メモリの粒子の並行してテストの最大数512に達することができる。

フラッシュ・メモリの破片の理性的な試験制度YC-512-NANDは多数のテスト パターンおよび注文テスト変数機能を支え、高い柔軟性をだけでなく、できるフラッシュ・メモリの粒子の余命、実際の測定、データ保持を実現1かちりと言う音基本的なテスト プロセスおよび高レベルテスト プロセスに与え、干渉および他の機能テストを読むことはまたユーザーがフラッシュ・メモリの粒子の信頼性の状態を確認するのを助けることができる。テストが完了した後、テスト レポートは最も直観的で、最も正確で写実的なテスト データを顧客に与える1つのキーと速くそしてすぐに輸出するためにことができる。最も直観的なデータ参照をフラッシュ・メモリの粒子の等級の分類そして適用に提供し、フラッシュ・メモリの粒子の質の点検結果に基づいて理性的な分類を実現しなさい。

※はJEDECの立場No.218にテスト基礎従う:ソリッド ステート技術連合B-2016ソリッド ステート ドライブ（SSD）条件および耐久試験Motho;

※はJEDEC標準的なNo.47 NVCEにテスト基礎従う:集積回路のソリッド ステート技術連合の圧力テスト主導の資格;

※はテスト ボードの設計指定産業等級テスト温度の環境の条件を満たす;